KAIST 김만원 교수팀은 미국 산타바버라 캘리포니아대학(UC), 중국 충칭(重慶)대학, 독일 울름대학과의 공동연구에서 액정 결함의 원인이 마이크로 채널에 의해 나타난다는 사실을 세계 최초로 알아냈다. ‘마이크로 채널´은 마이크로미터 크기의 깊이와 폭을 가진 미세한 통로형태의 구조를 말하는 것으로, 김 교수팀의 연구에서 이 마이크로채널이 액정결함의 구조와 크기, 배열 등을 결정하는 것으로 드러났다. 김만원 교수는 “이 연구는 마이크로 채널을 통해 액정결함의 구조와 배열을 제어함으로써 LCD의 선명도를 향상시킬 수 있는 새로운 가능성을 제시했다"고 설명했다.