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X-ray 특성화와 특성 측정 공동연구
  • 편집부
  • 등록 2005-05-31 18:50:02
  • 수정 2010-11-19 16:01:16
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Bruker AXS Inc.와 Albany NanoTech는 X-ray 특성화와 특성 측정에 대해 공동연구하기로 합의했다. 이 합의에 의해 Bruker는 Albany NanoTech에 절단 단면 회절 법인 D8 Discover를 알려주기로 하였다. D8은0.1nm에서부터 1000nm크기의 나노 층의 구조를 분석할 수 있다. 이 혁신적인 특징으로, D8은 300mm 크기까지 샘플에 대하여 매우 정확한 구조분석을 단기간에 얻을 수 있다. NanoTech는 D8을 사용하여 차세대 이중구조 반도체를 분석하고 새로운 종류의 나노물질을 만드는데 사용할 예정이다. (ACB)

 

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