매우 밝은 소프트 X-레이 빔과 첨단 광원 실험 시설을 사용하여 Lawr ence Berkeley 국립 연구소는 표면 밑의 수 나노층을 선택적으로 관찰할 수 있는 새로운 기술을 개발하는데 성공했다. 소프트 X-레이의 정상파를 이용하여 연구진은 표면 밑층의 화합물 조성, 화학적, 자기적, 전기적 구조의 비파괴 분석을 할 수 있었다. 초박막, 액체층, 분자 클러스터의 연구나 표면 화학과 관련된 환경문제들에 관련된 부분에 응용될 것이다. X-레이 현미경과 결합하여 3차원 분광기로도 사용할 수 있다. (ACB)