편집부(외신) 컴퓨터로 제어되는 고속 광학 신장계(伸長計)인 200XH 모델은 두 광원과 시험 시편의 대조 게이지 마크 사이의 거리를 측정해 변형된 정도에 따라 아날로그 신호로 곧바로 변환하여준다. 이 제품은 0~250kHz 주파수 범위에서 작동하는데 높은 변형률을 측정하는데 매우 적합하다는 평을 받고 있다. 이 제품은 100Hz 대역에서 게이지 마크 변형 측정 범위가 1~500mm이고 공정 거리는 200~6000 mm, 0.01%의 분해능을 갖는 것이 특징이다. 이 제품은 금속이나 세라믹, 화합물, 플라스틱 그리고 생체 재료의 인장 시험이나 재료 내부의 금(crack)의 전파, 높은 변형률, 고온 시험(3200℃), 장기간의 크리프(creep)시험 그리고 파괴 실험이나 피로 시험에 사용될 수 있다. The Cooke Corp. tel 248-276-8820 fax 248-276-8825 E-mail info@cookecorp.com www.cookecorp.com 내슈빌에서 있었던 ACerS 2003 리서치와 개발/실험실 장비 박람회에 소개된 바 있는 광학 팽창계, 미슈라 LT(Misura LT)는 열기계 측정을 할 수 있는 비접촉 측정 시스템이라는 것이 특징이다. 제품은 1200℃까지 견딜 수 있는 것과 1380℃까지 견딜 수 있는 두 가지 종류가 있다. 포일이나 시트 같이 얇은 제품의 열기계적 거동은 제품이 불투명하기만 하면 측정이 가능하다. 녹색 테이프로 코팅되어있는 전자 기판용 세라믹 시트는 시트를 고정하기 위해 특별히 고안된 시편 홀더를 이용하여 쉽게 측정할 수 있다. ElektroPhysik USA Inc. tel 880-782-1506 퀸트소닉(QuintSonic)은 부도체 기판 위에 입혀진 단층 혹은 다층의 코팅 층의 두께를 측정하기 위해 특별히 고안된 초음파 코팅 두께 측정기구이다. 한번의 측정으로 각 층의 두께가 측정, 화면에 표시된다. 읽혀진 자료는 통계 처리를 통해 저장되거나 프린터, PC 혹은 데이터 기록기에 즉시 또는 나중에 저장할 수 있다. Expert System Solution S.r.l. www.expertsystemsolutions.com 역동 광 산란을 이용한 입자 크기 분석기인 LB-550는 1nm~6㎛ 범위의 입자 크기를 측정할 수 있고 ppm에서 40%의 농도를 30초 이내에 측정해 낼 수 있어 광범위한 영역의 측정에 적합하다. 후방 산란 광 레이아웃으로 인해 높은 농도의 시편의 측정이 가능한 동시에 광 노이즈를 최소화하여 낮은 농도와 작은 입자 크기의 시편의 측정도 가능하다. 일반적으로 측정에 걸리는 시간은 1~2분 정도로 LB-550은 빠르고 다양한 입자 크기를 측정 할 수 있는 나노미터 크기 범위에 적합한 분석기이다. 퓨리에 변환, 반복 디콘볼루션 기술을 이용해 평균 입자 크기뿐만 아니라 모양과 다양한 모드의 유사성도 별도의 선택 없이 정확한 결과를 얻을 수 있다. Horiba Instruments Inc. tel 800-446-7422 or 949-250-4811 fax 949-250-0924 E-mail labinfo@horiba.com www.horibalab.com 레이저 입자 크기 측정기인 애널라이젯 22 나노텍(Analysette 22 NanoTech)은 ACHEM A 2003에서 입자 크기 분포와 입자 형태를 한번의 처리로 측정해낼 수 있는 최초의 레이저 측정 장치로 첫 선을 보였다. 이 장치의 가장 두드러진 특징은 완전히 새로운 구조의 센서와 소프트웨어가 제조업자들이 혁명이라고 부를 정도로 완벽한 조화를 이루고 있다는 것이다. ㆍ마이크론 이하까지 측정가능 : 10nm에서 1000㎛ ㆍ0~180° 범위의 산란된 빛 측정가능 ㆍ두 레이저 빔의 자동 정렬 ㆍ미 산란 이론(Mie theory)에 대한 현대적이고 완전한 계산 ㆍ근사법 없이 적분 계산 ㆍ습식과 건식 측정시 전자동 변환 ㆍ독립적인 건식, 습식 측정 경로 Fritsch GmbH tel 49-67 84-70-146 fax 49-67 84-70-11 E-mail info@fritsch.de www.fritsch.de 비접촉 광학 팽창계인 TOMMI는 소결하는 동안 세라믹 화합물의 부피팽창을 측정한다. 이 광학 팽창계는 빛을 받은 시편의 실루엣을 CCD 카메라를 이용해 기록한다. 특수 소프트웨어를 이용해 짧은 시간 간격으로 약 0.01%의 분해능으로 너비와 높이를 측정한다. 40mm까지의 화합물은 1700℃까지 측정이 가능하다. 특별히 요구되는 시편의 모양은 없다. 소결 과정 조절 외에도 이 장비는 열처리 동안 시편이 휘는 현상을 모니터링 하는 데에도 사용될 수 있다. Fraunhofer-Institut Fur Silicatforschung tel 49-931-4100-128 fax 49-931-4100-399 E-mail righi@isc.fraunhofer.de www.isc.fhg.de 마이크로 캣 스캔(micro-CAT scan)의 스카이스캔 시리즈는 재료 내부의 구멍이나 금, 구조적인 차이 등의 관찰을 위해 시편의 단면을 비파괴 방법으로 볼 수 있게 해준다. 시편의 미세 조직은 5mm만큼 미세한 분해능으로 15mm처럼 작은 크기까지 볼 수 있다. 스카이스캔 1072 마이크로-CT는 화합물, 세라믹 그리고 폴리머 연구에 사용될 수 있다. Micro Photonics tel 610-366-7103 E-mail tim@microphotonics.com www.microphotonics.com 새로운 ASAP 2020 표면 다공성 측정 장치는 재료의 개발, 생산 모니터링, 품질관리를 위해 고품질의 표면과 표면의 다공성 정보를 제공해주는 능력이 강화되었다. 이러한 특징 외에도 흡착되어있는 가스의 부피를 매우 정확하게 측정할 수 있다. 이 장비는 다수의 데이터 정리 방법을 포함하고 있어 미세 구멍과 화학 흡착 분석에 더 뛰어난 성능을 자랑한다. 모든 장치들은 ASAP 2020 캐비넷에 집적되어있기 때문에 추가적인 작업대가 필요 없다. 수증기를 비롯한 다양한 흡착 물질에 대한 흡착과 탈착 분석을 할 수 있다. Micromeritics Instruments Corp. www.micromeritics.com 레이저 유도 breakdown 시스템 분광계 LIBS 2000+은 고체, 액체 그리고 기체의 트레이서 추적을 포함하여 시편의 정량분석과 성분분석을 위한 실시간 광대역 스펙트럼 분석을 가능하게 해준다. 이 장비는 별도의 시편 준비가 필요 없고 열악한 환경에서 사용 가능하고, 재료의 분석과 표면 코팅 분석에 적용될 수 있다. LIBS2000+는 0.1nm(FWHM)의 분해능으로 200에서 980nm 영역의 스펙트럼 분석과 피코 그램(picogram)까지 측정할 수 있는 정밀도를 제공한다. 작동시에는 높은 강도의 Nd:YAG 펄스 레이저가 10ns 너비의 펄스로 시편을 여기 시킨다. 시편에 불이 붙으면 고온의 레이저가 플라스마를 발생시킨다. 플라스마가 냉각될 때 플라스마 내부의 여기된 원자가 시편 원소 조성의 에너지 준위에 따른 파장의 빛을 발산한다. Ocean Optics Inc. tel 727-733-2447 fax 727-733-3962 E-mail info@oceanpptics.com www.oceanoptics.com 레이저 유도 파괴 분광기술(레이저 유도 형광)을 이용한 분광계인 스펙트로레이저는 정확하면서도 빠른 원소 분석이 가능하다. 재료의 표면에 스파크(즉 플라스마)를 일으키기 위해 높은 파워의 레이저를 사용하고 빛은 180~800nm의 범위의 파장에서 네 개의 CCD 검출기(연속적으로 데이터를 받음)로 분석된다. 원소에 따라 방출되는 빛은 분석되고 있는 재료 속의 함량과 직접적인 관계가 있다. 대부분의 경우 분석 시간은 초 단위이고 시편 준비 단계가 비교적 간단하다. Laval Lab Inc. tel 888-667-7077or 450-681-3883 fax 450-681-9939 E-mail info@lavallab.com www.lavallab.com 트윈-X(T win-X)는 고체, 액체, 가루, 페이스트 등의 빠른 비파괴 분석을 할 수 있는 원소 분석 시스템이다. 벤치탑 형태의 XRF 분광계로서 제품 생산제어(QC), R&D, 교육용으로 사용될 수 있다. 10개의 시편 홀더가 자동으로 작동하고, 깔끔하고 강력한 고유 소프트웨어가 제공되는 PC와 템플릿 마법사, 온라인 도움말 지원이 결합되어 어느 실험실에서도 시스템을 사용하기 쉽게 해준다. Oxford instruments Analytical tel 44-1494-479371 fax 44-1494-461033 표면과 표면의 미공 크기 측정 장비인 노바(Nova) e 시리즈는 다국어 지원이 특징이다. 완전히 새롭게 재디자인 된 노바 e 시리즈는 어떤 실험실의 요구 조건이라도 만족시킬 수 있도록 한 개, 두 개, 세 개, 네 개의 시편 홀더를 가진 모델이 있다. 제조자들은 분석 포트의 수가 많을수록 실험실의 요구 변화에 쉽게 적응할 수 있다고 주장한다. Quantachrome Instruments tel 561-731-4999 fax 561-732-9888 www.quantachrome.com PSD 3603은 가루 제조업체의 요구에 적합한 단입자 계수기이다. 3603은 공기 역학의 비행시간 기술을 이용하여 0.2~700㎛ 지름 범위의 입자를 측정한다. 작동은 간단하고 별도의 시편 준비가 필요 없다. 시편을 올려놓고 분석기를 작동시키면 이 장비는 수 분 안에 시편과 시편의 외형적인 크기와 공기 역학적 크기, 표면과 부피 분포를 분석해 낸다. TSI Inc. tel 880-677-2708 or 651-490-2811 fax 651-490-3824 E-mail powder@tsi.com www.tsi.com ARL XTRA는 시편 준비와 시편을 다루기 쉽게 하기 위해 수직 세타세타 외형(브래그 브렌타노, Bragg-Brenta no)으로 디자인 된 파우더 X-ray 회절기이다. 고성능을 발휘할 수 있도록 새롭게 디자인된 고니오미터와 펠티어(Peltier) 냉각된 실리콘(또는 리튬) 고상 검출기가 결합되어 있다. 이 검출기는 원하지 않는 소스(source) 라인과 시편의 형광을 전기적으로 구별할 수 있는 에너지 분해능을 갖추고 있어 기존에 사용되어왔던 Kb 필터와 단색화 장치가 필요 없다. Thermo Electron Corp., Elemental Analysis tel 44-1223-345410 E-mail spectroscopy.uk@thermo.com www.thermo.com/spectrocopy 레이저를 사용하여 재료의 팽창과 수축을 측정할 수 있는 비접촉 팽창계가 개발되었다. 새로 개발된 모델의 레이저는 시편에 접촉하지 않고 열팽창을 측정하여 접촉 압력을 없애고 보다 정확한 측정 결과를 제공해 준다. 접촉 방식과 비접촉 방식의 팽창계로부터 얻은 자료의 정량적인 차이 분석을 위해 백자(자기)와 유리의 열분석을 하는 연구가 수행되고 있다. 이 실험의 결과는 2003년의 말에 알 수 있다. Orton Ceramic Foundation tel 614-895-2663 E-mail slevin@ortonceramic.com 중원소의 저 레벨 검출이 가능한 에너지 분산 X-ray 형광(EDXRF) 분광계인 엡실론 5(Epsilon 5)는 고체, 압축된 파우더, 과립, 액체, 박막 그리고 유리된 재료 속의 나트륨에서 우라늄까지의 원소를 검출해 낸다. 측정은 진공이나 헬륨 분위기에서 이루어진다. 이 EDXR F는 100%에서 ppm 이하 레벨 농도의 As, Pb, Cd과 란탄족 원소 같은 중원소 트레이서(tracer) 분석이 뛰어나다는 평을 받고 있다. PANalytical tel 31-546-534-444 fax 31-546-534-592 E-mail info@panalytical.com www.panalytical.com 열기계분석기인 TMA-60시리즈는 두 가지 모델이 있다. TMA-60는 여러 가지 시편 형태에 따라 여러 가지 유형의 측정이 가능한 다기능 시스템이다. TMA-60H는 세라믹과 유리의 고온 팽창 측정을 위해 고안된 차동 팽창계이다. 고 정밀 저 편차 디지털 변위 검출기로 1㎛/℃의 정확도를 얻을 수 있다. Shimadzu Scientific Instruments Inc. tel 800-477-1227 fax 410-381-1222 www.ssi.shimadzu.com 입자 크기 분석기 어큐사이저(AccuSizer) APSXR은 역동 빛 산란의 원리와 단입자 광학적 크기 측정의 원리를 한 장비에 결합한 것이다. 입자 한 개의 주입, 충돌 산란으로 사용자는 평균 입자 크기에서 벗어난 정도를 정량적으로 확인 할 수 있을 뿐만 아니라 주된 피크의 분포를 정의할 수 있다. 큰 크기의 입자들은 제품이 ‘좋은지’ 혹은‘나쁜지’를 구별하는 기준이 되곤 한다. 이 장비는 대부분 서브마이크론의 크기를 갖는 분포곡선의 끝부분에서 작은 수준의 입자들을 검출하고 수치화 할 수 있다. Particle Sizing Systems tel 727-846-0866 (Ceramic Bulletin)